X射线光电子能谱简单介绍
XPS是由瑞典Uppsala大学的K. Siegbahn及其同事历经近20年的潜心研究于60年代中期研制开发出的一种新型表面分析仪器和方法。鉴于K. Siegbahn教授对发展XPS领域做出的重大贡献,他被授予1981年诺贝尔物理学奖。
X射线激发光电子的原理
XPS现象基于爱因斯坦于1905年揭示的光电效应,爱因斯坦由于这方面的工作被授予1921年诺贝尔物理学奖;
X射线是由德国物理学家伦琴(Wilhelm Conrad Röntgen,l845-1923)于1895年发现的,他由此获得了1901年首届诺贝尔物理学奖。
X射线光电子能谱( XPS ,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy)是一种基于光电效应的电子能谱,它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子,通过对这些电子进行能量分析而获得的一种能谱。
这种能谱最初是被用来进行化学分析,因此它还有一个名称,即化学分析电子能谱( ESCA,全称为Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。
XPS谱图分析中原子能级表示方法
XPS谱图分析中原子能级的表示用两个数字和一个小字母表示。例如:3d5/2
(1)第一个数字3代表主量子数(n);
(2)小写字母代表角量子数 ;
(3)右下角的分数代表内量子数j
l—为角量子数,l = 0, 1, 2, 3 ……,
注意:在XPS谱图中自旋-轨道偶合作用的结果,使l不等于0(非s轨道)的电子在XPS谱图上出现双峰,而S轨道上的电子没有发生能级分裂,所以在XPS谱图中只有一个峰。
XPS谱图的表示
横坐标:动能或结合能,单位是eV,一般以结合能为横坐标。
纵坐标:相对强度(CPS)。
结合能为横坐标的优点:
(1)结合能比动能更能反应电子的壳层结构(能级结构);
(2)结合能与激发光源的能量无关。
XPS谱图中谱峰、背底或伴峰
(1)谱峰:X射线光电子入射,激发出的弹性散 射的光电子形成的谱峰,谱峰明显而尖锐。
(2)背底或伴峰:如光电子(从产生处向表面)输 送过程中因非弹性散射(损失能量)而产生的 能量损失峰,X射线源的强伴线产生的伴 峰,俄歇电子峰等。
(3)背底峰的特点:在谱图中随着结合能的增加,背底电子的强度逐渐上升 。
XPS谱图的背底随结合能值的变化关系
XPS峰强度的经验规律
(1)主量子数小的壳层 的峰比主量子数大 的峰强;
(2)同一壳层,角量子 数大者峰强;
(3)n和l都相同者,j大者峰强。
应用一:表面元素全分析
1. 表面元素全分析的目的
了解样品表面的元素组成,考察谱线之间是否存在相互干扰,并为获取窄区谱(高分辨谱)提供能量设置范围的依据。
2. 表面元素全分析的方法
(1)对样品进行快速扫描,获取全谱;
(2)对谱图中各谱线的结合能进行能量校正;
(3)校正后的结合能和标准数据(或谱线)对 照,确定各谱线的归属,即确定各谱线代 表的元素。
二氧化钛涂层玻璃试样的XPS谱图
应用二:元素窄区谱分析
1. 元素窄区谱分析的方法
(1)以全分析谱作为基础,由其确定扫描的能量范围。
(2)与全谱相比,它的扫描时间长,通过的能量小,扫描步长也小,这样有利于提高测 试的分辨率。
2. 元素窄区谱分析的用途
(1)分析离子价态
做试样的XPS谱和标准谱图做对比,或同时做试样和某一价态的纯化合物的XPS谱,然后对比谱图的相似性。
案例:鉴定铜红玻璃试样中铜的价态
(2)确定元素不同离子价态比例
方法
A. 对试样做XPS分析,得到窄区谱。
B. 若谱峰不规则,则对谱线进行拟合,得到不同价态元素的谱线;
谱峰解叠
A. 对不同价态的谱峰分别积分得到谱峰面积;
B. 查各价态的灵敏度因子,利用公式求各价态的比例。
案例:确定二氧化钛膜中+4价和+3价的比例
应用三:材料表面不同元素的定量
方法:(1)对试样做XPS分析,得到窄区谱;(2) 根据峰面积和灵敏度因子,利用公式计算各元素的相对含量。
应用四:化学结构分析
依据:(1)原子的化学环境与化学位移之间的关系;(2)羰基碳上电子云密度小, 1s电子结合能大(动能小);(3)峰强度比符合碳数比。
应用五:深度分析
原理:用离子枪打击材料的表面,这样可以不断地打击出新的下表面,通过连续测试,循序渐进就可以做深度分析,得到沿表层到深层元素的浓度分布。
利用离子枪依次剥落表面,进行XPS分析,就可以得到深度分布图谱
案例:Ni-B合金表面Ni、B、O的表面浓度与氩刻时间的关系
应用六:高分子结构分析
光降解作用
方法:比较光照前后谱图是否有变化,变化的程度如何。
案例:紫外光对聚丙烯酸甲酯的降解
案例:聚偏氯乙烯降解反应随时间的变化
辐射交联
高分子链之间形成新的键,使之成为网状结构高分子的反应。交联分为化学交联、光交联及辐照交联。
交联度的定义:表征骨架性能的参数,是指交联剂在反应物中所 占的质量分数。
案例:振激峰的相对强度与辐射剂量关系的C1s的XPS谱
辐射剂量Sv: a:0; b: 46.38; c:85.11; d: 140.76; e:259.7
有机物界面反应
方法:测反应前后某一元素结合能的变化。
应用七:XPS在分子筛方面的应用
判断分子筛的类型
分子筛中各阳离子的交换度
判断分子筛的纯度
分子筛的酸性质
Si/Al 比越高,O1S的结合能越大。这是由于SiO2中O1S的结合能为532.8ev,Al2O3的为530.8 ev。因此O1S的结合能越大意味着酸量越少,酸强度增大。
应用八:催化剂中毒
Pd催化剂在含氮有机化合物体系中失活前后的XPS谱图
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