【理论计算】Chem. Mater.:CuRhO2块体和表面的结构、电子性质和缺陷化学

研究背景

【理论计算】Chem. Mater.:CuRhO2块体和表面的结构、电子性质和缺陷化学

通过光电化学(PEC)实现水分解是极具吸引力的研究方法,为了实现高的太阳能-氢(STH)转换效率,选择优异的催化剂实现阳极析氧、阴极析氢十分必要。
在潜在的光电阴极材料中,氧化亚铜因其良好的直接带隙而引起了人们的广泛关注,然而,CuO2的氧化还原电位位于带隙内,导致了电化学环境中的自光腐蚀,进一步地CuRhO2凭借高稳定性和良好的能隙(1.9eV)在光电析氢领域存在重要研究意义。目前对CuRhO2与其光催化活性相关的基本体积和表面性质知之甚少。
普林斯顿大学Taehun Lee和 Annabella Selloni等人借助理论计算方法研究了原始和缺陷体CuRhO2的结构、热力学和电子性质,揭示体缺陷态及暴露表面在光激发过程中的作用规律。
模型与计算方法
本文通过QUANTUM ESPRESSO (QE) 软件包进行DFT计算,用标量相对论优化的模守恒范德比尔特(ONCV)赝势描述了电子−离子的相互作用,采用GGA-PBE泛函进行电子交换相关性,通过Freysoldt−Neugebauer−Van de Walle (FNV) 方法进行校正带电缺陷单元之间的伪静电相互作用,并选用HSE06泛函精确获得电子性质及光学性质。

结果与讨论

CuRhO2以三角形结构为框架,空间群R3m,六边形对称。由RhO6六面体和两个配位的Cu原子组成,沿−轴呈线性的O−Cu−O构型,经过GGA-PBE、metaGGA SCAN、HSE06杂化功能对CuRhO2(3R和2H)多态相的结构进行计算,晶体结构变化较小,能够稳定存在。
使用HSE06计算SCAN预测的几何形状的能量,给出热力学能量范围,其中体积CuRhO2相对于竞争的氧化铜、氧化铜、RhO2和Rh2O3相是稳定的,而ΔμO在稳定能量范围内的具体数值见红色标度条。
在图1b中将稳定范围的顶点标记为A、B和C,其中点A和C代表富金属(特别是富Rh和富铜)条件,而点B代表富O条件。
【理论计算】Chem. Mater.:CuRhO2块体和表面的结构、电子性质和缺陷化学图1. CuRhO2的结构及热力学稳定性判定
通过HSE06计算CuRhO2的带隙(图2),呈现2.35eV的间接带隙,高于试验值的原因是由于计算没有考虑激子效应。
PDOS可以发现价带(VB)由Rh 4d、Cu 3d和O 2p的电子贡献混合组成,而最低的导带(CB)主要由Rh 4d组成,对O 2p有一定的贡献。
与CuFeO2相比,CuRhO2在VBM附近的Rh 4d的贡献导致O 2p到Cu 3d 上的空穴迁移减少,从而降低了空间电荷分离的效率,说明Rh原子上的激发电子−空穴对可能发生重组。
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图2. CuRhO2的电子性质
随后作者对CuRhO2缺陷态结构进行讨论,VCu和CuRh缺陷是容易出现的两种缺陷形式,并缺陷形成能较小。
结合图3和图S3,VCu和CuRh的(0/1-)转变线分别发生在VBM以上的+0.19和+0.32 eV处,表明这两种缺陷都是浅层p型半导体受体。同样,对于CuRh和VCu,(1-/2-)跃迁水平都在CBM以上,这表明2−电荷态都是不利的。
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图3. 缺陷形成能与费米能级的关系
进一步分析由CuRh引入的缺陷态,在图4中绘制了电荷中性(CuRh 0)和电荷(CuRh1−和CuRh 2−)缺陷的态密度及电子密度。
未配对的空穴态主要限域在Cu缺陷及相邻的6个氧原子上,并且电荷中性下,Cu的价态高于+2价,带电量为1时价态为+2,带电量为2时铜价态变为+1。随着CuRh缺陷态带电量增加,Cu的氧化性降低。
CuRh 1−比中性的CuRh 0缺陷表现出更大的eg态分裂,这种增强的分裂可以理解为Jahn – Teller效应,此时VB与CB发生共振,对于电子激发有促进作用。并且随着CuRh缺陷带电量的提升,CuO6八面体的体积有规律地增加。
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图4. CuRhO2缺陷态态密度和电子密度
计算原始CuRhO2和缺陷CuRhO2在平行和垂直于c轴的方向上介电函数的虚部。CuRh缺陷主要影响平面外响应Im ε
对于中性的CuRh 0缺陷,在0.90 eV处有一个突出的介电常数峰,光生载流子激发效率有所降低。对于带负电荷的CuRh−1,在2 ~ 2.5 eV的能量范围内呈现出本征CuRhO2不存在的特征。
与本征CuRhO2相比,图5d显示了计算得到的吸收边明显向较低的能量方向移动,表明CuRh−1缺陷诱发材料表面对可见光吸收能力的增强,对光催化性能有着积极影响。
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图5. 介电常数与光吸收谱
铜空位缺陷(VCu)附近的6个Cu原子发生离域。这些铜原子具有自旋极化,磁矩小,范围为+0.05 ~ +0.07 μB。在带电的VCu 1−态中,缺陷态完全充满并与VB共振,所有自旋极化消失(图6c)。
这证实了VCu是一个单受体,只允许1−电荷状态,说明VCu的空穴态特征与其他相近体系(如CuAlO2和CuCrO2)类似。
VCu 0产生的浅层空穴态在热激活时对p型半导体的电导率有贡献,而VBM处的带电VCu 1−能促进空穴从O 2p向Cu 3d共振态转移(能量更高)。因此,该缺陷可以改善CuRhO2中光激发电子-空穴对的分离。
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图6. 铜空位态密度
接下来作者对CuRhO2表面的电子性质进行分析,有四个可能的终止面:两个表面由Rh或Cu原子终止,其他表面由氧与Rh (Rh/O表面)或Cu(Cu/O表面)原子终止。
在Rh/O表面,最外层的氧原子只有一个不饱和键。在弛豫时,表面原子从其理想位置发生微小位移,导致最外层的O−Rh键的键长减少。RhO6八面体的对称性保持效果良好(图7a)。
并在相图中,显示Rh/O表面占主导地位,而金属(Rh和Cu)端部表面在由块状Rh2O3和CuO包围的能量区域(图7d中白色箭头)是不利于热力学的,与体相结构不同的是,当VCu和CuRh缺陷都存在时,只有CuRh缺陷出现在表面上。而富Cu表面(Cu表面或Cu缺陷)可以在富O和富Cu的条件下形成。
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图7. CuRhO2表面的稳定性
Rh/O、富Cu/O和Rh/O+CuRh表面的电子性能计算结果如图8,Rh/O表面表现出半金属性质,有利于CuRhO2(001)作为光电阴极的活性材料,在表面引入Cu原子,例如在Rh/O表面上的CuRh缺陷的存在,会产生跨越整个带隙的表面局域态。
这些缺陷可以作为捕获位点,有利于光激发载体的重组,降低CuRhO2的光催化活性。此外,表面态也可以诱导费米能级钉扎,从而限制光电压。
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图8. Rh/O、富Cu/O和Rh/O+CuRh表面的电子性能

结论与展望

本文的研究结果有助于深入了解Cu(I)基三角矿的本体和表面固有缺陷的特性及其对光电性质的影响。也为相关材料的水界面和光电化学的理论研究做出指导。

文献信息

Lee, T., Ferri, M., Piccinin, S., & Selloni, A. (2022). Structure, Electronic Properties, and Defect Chemistry of Delafossite CuRhO2 Bulk and Surfaces. Chemistry of Materials, 34(4), 1567-1577.
https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.1c03248

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