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样品制备:将SAM等材料制备在适合的基底(如硅片或导电玻璃片)上,样品需保持清洁和平整,以确保成像质量。
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官能团及红外波数确定:自测FTIR或者根据文献,确定SAM官能团的红外谱波数,以便锁定下一步测试的IR峰位置。
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AFM-IR:使用调制的红外激光照射样品,同时通过AFM探针获得样品在各位置的红外吸收光谱。
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